טוען...
Field ion microscopy; principles and applications,
| מחבר ראשי: | Müller, Erwin W. |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Tsong, Tien Tzou |
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
New York,
American Elsevier Pub. Co.,
1969.
|
| נושאים: |
פריטים דומים
-
Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /
מאת: Murr, Lawrence Eugene
יצא לאור: (1982) -
Atom probe microscopy
מאת: Gault, Baptiste et.al
יצא לאור: (2012) -
Near field optics and nanoscopy /
מאת: Fillard, J. P.
יצא לאור: (1996) -
Onium ions /
מאת: Olah, George A^het al.
יצא לאור: (1998) -
BIOLOGICAL Field emission Scanning Electron Microscopy
מאת: FLECK
יצא לאור: (2019)