Načítá se...
Field ion microscopy; principles and applications,
| Hlavní autor: | Müller, Erwin W. |
|---|---|
| Další autoři: | Tsong, Tien Tzou |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
New York,
American Elsevier Pub. Co.,
1969.
|
| Témata: |
Podobné jednotky
-
Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications /
Autor: Murr, Lawrence Eugene
Vydáno: (1982) -
Atom probe microscopy
Autor: Gault, Baptiste et.al
Vydáno: (2012) -
Near field optics and nanoscopy /
Autor: Fillard, J. P.
Vydáno: (1996) -
Onium ions /
Autor: Olah, George A^het al.
Vydáno: (1998) -
BIOLOGICAL Field emission Scanning Electron Microscopy
Autor: FLECK
Vydáno: (2019)