Field ion microscopy; principles and applications,

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Müller, Erwin W.
Andere auteurs: Tsong, Tien Tzou
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York, American Elsevier Pub. Co., 1969.
Onderwerpen:
Field ion microscopy
Omschrijving
Fysieke beschrijving:ix, 314 p. illus. (part col.) 24 cm.
ISBN:0444000623

Gelijkaardige items