Ion spectroscopies for surface analysis /

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Czanderna, Alvin Warren., ed, Hercules, David M., ed
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York : Plenum Press, c1991.
Seria:Methods of surface characterization; v. 2
Hasła przedmiotowe:
Solids--Surfaces--Analysis > Secondary ion mass spectrometry > Surface chemistry
Opis
Opis fizyczny:xvii, 469 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN:0306437929

Podobne zapisy