Ion spectroscopies for surface analysis /

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Czanderna, Alvin Warren., ed, Hercules, David M., ed
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York : Plenum Press, c1991.
Saila:Methods of surface characterization; v. 2
Gaiak:
Solids--Surfaces--Analysis > Secondary ion mass spectrometry > Surface chemistry
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xvii, 469 p. : ill. ; 24 cm.
ISBN:0306437929

Antzeko izenburuak