Načítá se...
X-ray optics and X-ray microanalysis.
| Korporace: | , |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
New York,
Academic Press,
1963.
|
| Témata: |
PHY
| Signatura: |
537.5352 PAT |
|---|---|
| Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |