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Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials /
Autor principal: | |
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Formato: | Printed Book |
Idioma: | English |
Publicado em: |
New York :
Springer-Verlag,
1984.
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Assuntos: |
PHY
Área/Cota: |
530.4 WAS |
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Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |