Φορτώνει......
Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials /
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Printed Book |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York :
Springer-Verlag,
1984.
|
| Θέματα: |
PHY
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
530.4 WAS |
|---|---|
| Αντίγραφο | Η τρέχουσα κατάσταση είναι άγνωστη |