Načítá se...
Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials /
Hlavní autor: | |
---|---|
Médium: | Printed Book |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
New York :
Springer-Verlag,
1984.
|
Témata: |
PHY
Signatura: |
530.4 WAS |
---|---|
Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |