Lanean...

Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials /

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Waseda, Yoshio
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York : Springer-Verlag, 1984.
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:vi, 183 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0387133593