Lataa...
X-ray microscopy : proceedings of the international symposium, Göttingen, Fed. Rep. of Germany, September 14-16, 1983 /
Muut tekijät: | , |
---|---|
Aineistotyyppi: | Printed Book |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Berlin ;
Springer-Verlag,
1984.
|
Sarja: | Springer series in optical sciences;
v. 43 |
Aiheet: |
PHY
Hyllypaikka: |
502/.8/2 SCH |
---|---|
Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |