Wordt geladen...
X-ray microscopy : proceedings of the international symposium, Göttingen, Fed. Rep. of Germany, September 14-16, 1983 /
| Andere auteurs: | Schmahl, G., ed, Rudolph, D., ed |
|---|---|
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Berlin ;
Springer-Verlag,
1984.
|
| Reeks: | Springer series in optical sciences;
v. 43 |
| Onderwerpen: |
Gelijkaardige items
-
Three-dimensional X-ray diffraction microscopy: mapping polycrystals and their dynamics
door: Poulsen, Henning F.
Gepubliceerd in: (2004) -
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X/RAY MICROANALYSIS
door: LAWES GRAHAME
Gepubliceerd in: (2008) -
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis analytical chemistry by open learning
door: Lawes, Grahame
Gepubliceerd in: (2008) -
X ray microscopy
door: Schmahl, G
Gepubliceerd in: (1984) -
Handbook of X-rays, for diffraction, emission, absorption, and microscopy,
Gepubliceerd in: (1967)