טוען...
X-ray microscopy : proceedings of the international symposium, Göttingen, Fed. Rep. of Germany, September 14-16, 1983 /
| מחברים אחרים: | , |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Berlin ;
Springer-Verlag,
1984.
|
| סדרה: | Springer series in optical sciences;
v. 43 |
| נושאים: |