Lataa...
X-ray microscopy : proceedings of the international symposium, Göttingen, Fed. Rep. of Germany, September 14-16, 1983 /
| Muut tekijät: | Schmahl, G., ed, Rudolph, D., ed |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Berlin ;
Springer-Verlag,
1984.
|
| Sarja: | Springer series in optical sciences;
v. 43 |
| Aiheet: |
Samankaltaisia teoksia
-
Three-dimensional X-ray diffraction microscopy: mapping polycrystals and their dynamics
Tekijä: Poulsen, Henning F.
Julkaistu: (2004) -
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X/RAY MICROANALYSIS
Tekijä: LAWES GRAHAME
Julkaistu: (2008) -
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis analytical chemistry by open learning
Tekijä: Lawes, Grahame
Julkaistu: (2008) -
X ray microscopy
Tekijä: Schmahl, G
Julkaistu: (1984) -
Handbook of X-rays, for diffraction, emission, absorption, and microscopy,
Julkaistu: (1967)