Wordt geladen...

X-ray microscopy : proceedings of the international symposium, Göttingen, Fed. Rep. of Germany, September 14-16, 1983 /

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Schmahl, G., ed, Rudolph, D., ed
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Berlin ; Springer-Verlag, 1984.
Reeks:Springer series in optical sciences; v. 43
Onderwerpen:
Omschrijving
Fysieke beschrijving:ix, 345 p. : ill. (some col.) ; 24 cm.
ISBN:0387132716