Lanean...

X-ray microscopy : proceedings of the international symposium, Göttingen, Fed. Rep. of Germany, September 14-16, 1983 /

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Schmahl, G., ed, Rudolph, D., ed
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Berlin ; Springer-Verlag, 1984.
Saila:Springer series in optical sciences; v. 43
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:ix, 345 p. : ill. (some col.) ; 24 cm.
ISBN:0387132716