Wird geladen...

X-ray diffraction topography /

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tanner, B. K.
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York : Pergamon Press, 1976.
Schriftenreihe:International series in the science of the solid state ; v. 10
Pergamon international library
Schlagworte:
LEADER 00699cam a2200193 i 4500
005 20200810151757.0
008 751229s1976 nyu b 001 0 eng
082 0 0 |a 548/.83  |b TAN 
100 1 |a Tanner, B. K.  |9 2940 
245 1 0 |a X-ray diffraction topography /  |c by B. K. Tanner. 
300 |a xiii, 174 p. ;  |c 26 cm. 
490 0 |a International series in the science of the solid state ; v. 10 
490 0 |a Pergamon international library 
653 |a X-ray crystallography 
942 |c BK  |6 _ 
260 |a New York :  |b Pergamon Press,  |c 1976. 
020 |a 0080196926  
999 |c 211488  |d 211488 
952 |0 0  |1 0  |2 ddc  |4 0  |6 54883_TAN  |7 0  |9 269489  |a PHY  |b PHY  |d 2010-02-02  |o 548/.83 TAN*  |p PHY007474  |r 2010-02-02  |w 2010-02-02  |y BK