Lanean...

Patent-related misconduct issues in U.S. litigation

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Davidow, Joel
Hizkuntza:English
Argitaratua: Oxford Oxford University Press 2010
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xv, 234 p.
ISBN:9780195337204