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Stochastic reliability modeling, optimization and applications

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ed by Nakamura, Syouji
Weitere Verfasser: Nakagawa, Toshio
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New Jersey World Scientific 2010
Schlagworte:

STA

Bestandesangaben von STA
Signatur: 519.248 NAK
Exemplar Live-Status nicht verfügbar