Wordt geladen...

Stochastic reliability modeling, optimization and applications

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Ed by Nakamura, Syouji
Andere auteurs: Nakagawa, Toshio
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New Jersey World Scientific 2010
Onderwerpen:
Search Result 1
door Nakamura, Syouji. ed
Gepubliceerd in 2010
Printed Book