Lanean...

Stochastic reliability modeling, optimization and applications

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Ed by Nakamura, Syouji
Beste egile batzuk: Nakagawa, Toshio
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New Jersey World Scientific 2010
Gaiak:
Search Result 1
nork Nakamura, Syouji. ed
Argitaratua 2010
Printed Book