Nalaganje...

Stochastic reliability modeling, optimization and applications

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Ed by Nakamura, Syouji
Drugi avtorji: Nakagawa, Toshio
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: New Jersey World Scientific 2010
Teme:

STA

Podrobnosti zaloge STA
Signatura: 519.248 NAK
Kopija Zaloga ni dosegljiva