Ładuje się......

Stochastic reliability modeling, optimization and applications

Opis bibliograficzny
1. autor: Ed by Nakamura, Syouji
Kolejni autorzy: Nakagawa, Toshio
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New Jersey World Scientific 2010
Hasła przedmiotowe:

STA

Szczegóły zapisu STA
Sygnatura: 519.248 NAK
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana