Wordt geladen...

Statistical methods for QTL mapping

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Vhen, Zehua
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Boston CRC press 2014
Onderwerpen:
Omschrijving
Fysieke beschrijving:288p.
ISBN:978-1-4398-6830-0