Lanean...

Statistical methods for QTL mapping

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Vhen, Zehua
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Boston CRC press 2014
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:288p.
ISBN:978-1-4398-6830-0