Wordt geladen...

Statistical pattern recognition /3rd ed.

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Webb,Andrew R.
Andere auteurs: Keith D. Copsey
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: UK John Wiley & Sons 2011
Onderwerpen:
Omschrijving
Fysieke beschrijving:xvii, 642p.
ISBN:978-0-470-68228-9