Lanean...

Statistical pattern recognition /3rd ed.

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Webb,Andrew R.
Beste egile batzuk: Keith D. Copsey
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: UK John Wiley & Sons 2011
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xvii, 642p.
ISBN:978-0-470-68228-9