Nalaganje...

Mathematical models for systems reliability

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Epstein, Benjamin
Drugi avtorji: Weissman, Ishay
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: London CRC Press 2008
Teme:

STA

Podrobnosti zaloge STA
Signatura: 519.248 EPS
Kopija Zaloga ni dosegljiva