Ładuje się......

Mathematical models for systems reliability

Opis bibliograficzny
1. autor: Epstein, Benjamin
Kolejni autorzy: Weissman, Ishay
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: London CRC Press 2008
Hasła przedmiotowe:

STA

Szczegóły zapisu STA
Sygnatura: 519.248 EPS
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana