Wordt geladen...

Mathematical models for systems reliability

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Epstein, Benjamin
Andere auteurs: Weissman, Ishay
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: London CRC Press 2008
Onderwerpen:

STA

Exemplaargegevens van STA
Plaatsingsnummer: 519.248 EPS
Kopie Status is onbeschikbaar