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Mathematical models for systems reliability

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Epstein, Benjamin
Weitere Verfasser: Weissman, Ishay
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: London CRC Press 2008
Schlagworte:

STA

Bestandesangaben von STA
Signatur: 519.248 EPS
Exemplar Live-Status nicht verfügbar