Načítá se...

Mathematical models for systems reliability

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Epstein, Benjamin
Další autoři: Weissman, Ishay
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: London CRC Press 2008
Témata:

STA

Informace o exemplářích z: STA
Signatura: 519.248 EPS
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost