Lanean...

Mathematical models for systems reliability

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Epstein, Benjamin
Beste egile batzuk: Weissman, Ishay
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: London CRC Press 2008
Gaiak:
Search Result 1
nork Epstein, Benjamin
Argitaratua 2008
Printed Book