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Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Vonesh, Edward F.
Outros Autores: Chinchilli, Vernon, M.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: NewYork Marcel Dekker 1997
Assuntos:

STA

Detalhes do Exemplar STA
Área/Cota: 519.233.5 VON
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