Wordt geladen...

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Vonesh, Edward F.
Andere auteurs: Chinchilli, Vernon, M.
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: NewYork Marcel Dekker 1997
Onderwerpen:

STA

Exemplaargegevens van STA
Plaatsingsnummer: 519.233.5 VON
Kopie Status is onbeschikbaar