Wird geladen...

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Vonesh, Edward F.
Weitere Verfasser: Chinchilli, Vernon, M.
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: NewYork Marcel Dekker 1997
Schlagworte:

STA

Bestandesangaben von STA
Signatur: 519.233.5 VON
Exemplar Live-Status nicht verfügbar