Lanean...

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Vonesh, Edward F.
Beste egile batzuk: Chinchilli, Vernon, M.
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: NewYork Marcel Dekker 1997
Gaiak:

Antzeko izenburuak