Ładuje się......

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Opis bibliograficzny
1. autor: Vonesh, Edward F.
Kolejni autorzy: Chinchilli, Vernon, M.
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: NewYork Marcel Dekker 1997
Hasła przedmiotowe:

STA

Szczegóły zapisu STA
Sygnatura: 519.233.5 VON
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana