Wordt geladen...

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Vonesh, Edward F.
Andere auteurs: Chinchilli, Vernon, M.
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: NewYork Marcel Dekker 1997
Onderwerpen:
Omschrijving
Fysieke beschrijving:xii,560p. floppy
ISBN:0-8247-8248-8