Cargando...

Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Vonesh, Edward F.
Outros autores: Chinchilli, Vernon, M.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: NewYork Marcel Dekker 1997
Subjects:
Descripción
Descrición Física:xii,560p. floppy
ISBN:0-8247-8248-8