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Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Détails bibliographiques
Auteur principal: Vonesh, Edward F.
Autres auteurs: Chinchilli, Vernon, M.
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: NewYork Marcel Dekker 1997
Sujets:
Description
Description matérielle:xii,560p. floppy
ISBN:0-8247-8248-8