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Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Vonesh, Edward F.
Weitere Verfasser: Chinchilli, Vernon, M.
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: NewYork Marcel Dekker 1997
Schlagworte:
Beschreibung
Beschreibung:xii,560p. floppy
ISBN:0-8247-8248-8