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Applied logistic regression

Détails bibliographiques
Auteur principal: Hosmer, David W.
Autres auteurs: Lemeshow,Stanley
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: New York John Wiley & Sons 1989
Sujets:

STA

Informations d'exemplaires de STA
Cote: 519.233.5 HOS
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