Načítá se...

Applied logistic regression

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Hosmer, David W.
Další autoři: Lemeshow,Stanley
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New York John Wiley & Sons 1989
Témata:

STA

Informace o exemplářích z: STA
Signatura: 519.233.5 HOS
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost