Introduction to rare event simulation

other_versions_link
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Bucklew, James Antonio
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: New York Springer-Verlag 2004
Subjects:
Large deviations
Descripción
Descrición Física:260p.
ISBN:0-387-20078-9

Títulos similares