Đang tải...

Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Sumib, K. [ed.] (ed.by)
Tác giả của công ty: International conference on the science and technology of defect control in semiconductors
Định dạng: Printed Book
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Amsterdam North-Holland 1990
Những chủ đề:

UL

Chi tiết quỹ từ UL
Số hiệu: 621.382:620.1 SUM
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng