Yüklüyor......

Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Sumib, K. [ed.] (ed.by)
Müşterek Yazar: International conference on the science and technology of defect control in semiconductors
Materyal Türü: Printed Book
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Amsterdam North-Holland 1990
Konular:

UL

Detaylı Erişim Bilgileri UL
Yer Numarası: 621.382:620.1 SUM
Kopya Bilgisi Konumu erişilebilir değil.