Ładuje się......

Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989

Opis bibliograficzny
1. autor: Sumib, K. [ed.] (ed.by)
Korporacja: International conference on the science and technology of defect control in semiconductors
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: Amsterdam North-Holland 1990
Hasła przedmiotowe:

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 621.382:620.1 SUM
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana