Wordt geladen...

Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Sumib, K. [ed.] (ed.by)
Coauteur: International conference on the science and technology of defect control in semiconductors
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Amsterdam North-Holland 1990
Onderwerpen:

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 621.382:620.1 SUM
Kopie Status is onbeschikbaar