Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Sumib, K. [ed.] (ed.by)
מחבר תאגידי: International conference on the science and technology of defect control in semiconductors
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Amsterdam North-Holland 1990
נושאים:
Semiconductors - defect control

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 621.382:620.1 SUM
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים